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射線探傷試驗

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發(fā)布時間:2023-11-08 15:35:48

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來源:中析研究所

射線探傷試驗
導(dǎo)讀:

我們的檢測流程嚴(yán)格遵循國際標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范,確保結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。我們的實驗室設(shè)施精密完備,配備了最新的儀器設(shè)備和領(lǐng)先的分析測試方法。無論是樣品采集、樣品處理還是數(shù)據(jù)分析,我們都嚴(yán)格把控每個環(huán)節(jié),以確??蛻臬@得真實可信的檢測結(jié)果。

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射線探傷試驗去哪里可以做?中析研究所實驗室提供射線探傷試驗服務(wù),出具的檢測報告支持掃碼查詢真?zhèn)?。檢測范圍:焊縫、鑄件、鍛件、金屬構(gòu)件、管道、板材、軸等。檢測項目:缺陷檢測、焊接質(zhì)量評估、壁厚測量、結(jié)構(gòu)分析、裂紋檢測、異物檢測等。

檢測周期:7-15個工作日

射線探傷試驗

射線探傷試驗范圍

焊縫、鑄件、鍛件、金屬構(gòu)件、管道、板材、軸等。

射線探傷試驗項目

缺陷檢測、焊接質(zhì)量評估、壁厚測量、結(jié)構(gòu)分析、裂紋檢測、異物檢測等。

射線探傷試驗方法

X射線探傷:使用X射線作為探測源,通過材料與射線的相互作用來檢測材料內(nèi)部的缺陷或異物。常見的設(shè)備包括X射線管、探測器和圖像采集系統(tǒng)。

γ射線探傷:使用γ射線(如放射性同位素鈷-60、銫-137等)作為探測源,類似于X射線探測,在工業(yè)領(lǐng)域中廣泛應(yīng)用。設(shè)備通常包括放射性同位素源、探測器和圖像采集系統(tǒng)。

射線薄膜法:將射線敏感薄膜覆蓋在被測材料表面,經(jīng)過一段時間后,根據(jù)薄膜上的黑化程度來評估材料內(nèi)部的缺陷情況。

射線透視法:將射線束通過被測材料,利用透射圖像來觀察材料內(nèi)部的缺陷和異物。通常使用透射閃爍屏幕或數(shù)字成像系統(tǒng)來獲取圖像。

射線衍射法:通過測定材料中的射線衍射圖案,分析晶體結(jié)構(gòu)和缺陷等信息。常見的應(yīng)用包括X射線衍射(XRD)和中子衍射(ND)。

射線探傷試驗儀器

射線發(fā)生器,射線檢測器,顯示器或記錄器,校準(zhǔn)塊,輻射防護(hù)設(shè)備

射線檢測器
輻射防護(hù)設(shè)備

射線探傷試驗標(biāo)準(zhǔn)

GBZ 115-2023低能射線裝置放射防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)

GBZ 117-2022工業(yè)探傷放射防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)(發(fā)布稿)

GBZ/T 250-2014工業(yè)X射線探傷室輻射屏蔽規(guī)范

GB/T 14058-2023γ射線探傷機(jī)

GB 22448-2008500kV以下工業(yè)X射線探傷機(jī)防護(hù)規(guī)則

GB/T 26592-2011無損檢測儀器 工業(yè)X射線探傷機(jī) 性能測試方法

GB/T 26830-2011無損檢測儀器 高頻恒電位工業(yè)X射線探傷機(jī)

GB/T 26837-2011無損檢測儀器 固定式和移動式工業(yè)X射線探傷機(jī)

GB/T 26838-2011無損檢測儀器 攜帶式工業(yè)X射線探傷機(jī)

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