陶瓷粉末檢測去哪里可以做？中析研究所實驗室，提供陶瓷粉末檢測服務，出具的檢測報告支持掃碼查詢真?zhèn)?。檢測范圍：氧化物陶瓷粉末、非氧化物陶瓷粉末、復合陶瓷粉末、納米陶瓷粉末、生物陶瓷粉末、高溫超導陶瓷粉末等。檢測項目：粒度分析、化學成分分析、表面形貌觀察、X射線衍射(XRD)分析、熱重分析(TGA)、掃描電子顯微鏡(SEM)觀察等。

檢測周期：7-15個工作日

陶瓷粉末檢測范圍

氧化物陶瓷粉末、非氧化物陶瓷粉末、復合陶瓷粉末、納米陶瓷粉末、生物陶瓷粉末、高溫超導陶瓷粉末等。

陶瓷粉末檢測項目

粒度分析、化學成分分析、表面形貌觀察、X射線衍射(XRD)分析、熱重分析(TGA)、掃描電子顯微鏡(SEM)觀察等。

陶瓷粉末檢測方法

粒度分析：常用方法有激光粒度分析儀、動態(tài)光散射儀等。

化學成分分析：常用方法有原子吸收光譜法(AAS)、電感耦合等離子體發(fā)射光譜法(ICP-OES)、X射線熒光光譜法(XRF)等。

表面形貌觀察：常用方法有掃描電子顯微鏡(SEM)、原子力顯微鏡(AFM)等。

結晶相分析：常用方法有X射線衍射分析(XRD)。

熱性能分析：常用方法有熱重分析(TGA)、差示掃描量熱法(DSC)等。

導電性測試：常用方法有四探針電阻率測試儀等。

物理性能測試：如硬度測試、抗壓強度測試等。

陶瓷粉末檢測儀器

激光粒度分析儀、動態(tài)光散射儀、原子吸收光譜儀(AAS)、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP-OES)、X射線熒光光譜儀(XRF)、掃描電子顯微鏡(SEM)、原子力顯微鏡(AFM)、X射線衍射儀(XRD)、熱重分析儀(TGA)、差示掃描量熱儀(DSC)、四探針電阻率測試儀等。

陶瓷粉末檢測標準

ASTM C371-2009非塑性陶瓷粉末金屬絲布篩析試驗方法

ASTM C925-2009非塑性陶瓷粉末精密電刻濕篩分析的試驗方法

BS DD-ENV 14226-2002高科技陶瓷制品 陶瓷粉末的試驗方法 使用火焰原子吸收光譜法(FAAS)和感應耦合等離子體原子發(fā)射攝譜術(ICP-ES)測定氮化硅中的鈣,鎂,鐵和鋁

BS DD-ENV 14273-2002先進技術陶瓷-陶瓷粉末-氧化鋯水晶相位測定

BS DD-ENV 14312-2002先進技術陶瓷-陶瓷粉末-陶瓷顆粒流動性測定

BS EN 725-12-2001高技術陶瓷 陶瓷粉末的檢驗方法 第12部分:氧化鋯的化學分析

EN 725-4-2006高技術陶瓷 陶瓷粉末的檢驗方法 第4部分: 采用X射線熒光分析法對鋁氮粉末中氧含量的測定

DD ENV 14226-2002高科技陶瓷制品 陶瓷粉末的試驗方法 使用火焰原子吸收光譜法(FAAS)和感應耦合等離子體原子發(fā)射攝譜術(ICP-ES)測定氮化硅中的鈣,鎂,鐵和鋁

DD ENV 14273-2002先進技術陶瓷-陶瓷粉末-氧化鋯水晶相位測定

DIN EN 725-4-2006高技術陶瓷 陶瓷粉末的檢驗方法 第4部分:采用X射線熒光分析法對鋁氮粉末中氧含量的測定

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