標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 34002-2017

標(biāo)準(zhǔn)名稱：微束分析　透射電子顯微術(shù)　用周期結(jié)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)校準(zhǔn)圖像放大倍率的方法

適用范圍：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了透射電鏡(TEM)在很大放大倍率范圍內(nèi)所記錄的圖像的校準(zhǔn)方法。用于校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)具有周期性結(jié)構(gòu)，例如衍射光柵復(fù)型、半導(dǎo)體的超點(diǎn)陣結(jié)構(gòu)或X射線分析的分光晶體以及碳、金或硅的晶體晶格像。本標(biāo)準(zhǔn)適用于記錄在照相膠片上或成像板上或數(shù)字相機(jī)內(nèi)置傳感器采集的 TEM圖像的放大倍率。本標(biāo)準(zhǔn)也可用于校準(zhǔn)標(biāo)尺，但不適用于專用的臨界尺寸測(cè)長(zhǎng)透射電鏡(CD-TEM)和掃描透射電鏡(STEM)。

英文名稱：Microbeam analysis—Analytical transmission electron microscopy—Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2017-07-12

實(shí)施日期：2018-06-01

出版語(yǔ)種：中文簡(jiǎn)體

標(biāo)準(zhǔn)ICS號(hào)：71.040.40

中標(biāo)分類號(hào)：G04

歸口單位：全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 38)

提出部門：全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 38)

發(fā)布部門：中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

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